某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件測試報告
某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件測試報告
測試時間：2012-03-29 測試結果：失敗
測試元件型號：SPHE8202L-F1-OK2
測試設備：英國ABI-AT256
| Device: | SPHE8202-F1-OK2 |
|---|---|
| Package: | QFP128 |
| Scan Profile: | Low?V?Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 29 March 2012 |
Test Summary
某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件測試報告，使用英國abi集成電路測試儀AT256對集成電路SPHE8202L進行測試的資料。發現失效管腳與故障現象一致。
智聯航-電路板故障檢測設備 www.hysgf18.cn/article-detail/N1QgnYlN
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