某研究中心測(cè)試案例-HM628512ALP-7故障器件測(cè)試報(bào)告
某研究中心測(cè)試案例-HM628512ALP-7故障器件測(cè)試報(bào)告
| Device: | HM628512ALP-7 |
|---|---|
| Package: | 32 pin DIL wide |
| Scan Profile: | Low?V?Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 20 March 2012 |
提供某研究中心測(cè)試案例-HM628512ALP-7故障器件測(cè)試報(bào)告. 測(cè)試使用英國ABI的AT256集成電路測(cè)試儀，測(cè)試報(bào)告結(jié)果與集成電路失效管腳一致。
智聯(lián)航-電路板故障檢測(cè)設(shè)備 www.hysgf18.cn/article-detail/NoRaEq1B
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