某研究中心測(cè)試案例-LM124J故障器件測(cè)試報(bào)告
Device:? ? ? ??LM124J
Package:? ? ? ??14 pin DIL narrow
Scan Profile:? ? ? ??Low V Analogue
Overall Result:? ? ? ??FAIL
Operator:? ? ? ??Administrator
Report Date:? ? ? ??20 March 2012
某研究中心測(cè)試案例-LM124J故障器件測(cè)試報(bào)告。測(cè)試使用英國(guó)ABI的AT256集成電路測(cè)試儀，故障現(xiàn)象與測(cè)試結(jié)果一致。找到故障管腳的失效原因。
智聯(lián)航-電路板故障檢測(cè)設(shè)備 www.hysgf18.cn/article-detail/b7Z0Yl0W
智聯(lián)航(北京)測(cè)控技術(shù)有限公司
英國(guó)abi中國(guó)技術(shù)服務(wù)中心
電 話：010-82572150
郵 箱：h4040@163.com
地 址：北京市海淀區(qū)蘇州街18號(hào)長(zhǎng)遠(yuǎn)天地大廈A2座711室
郵 編：100080
郵 箱：h4040@163.com
地 址：北京市海淀區(qū)蘇州街18號(hào)長(zhǎng)遠(yuǎn)天地大廈A2座711室
郵 編：100080
